我经常听到客户抱怨，尽管在其光缆组件生产过程中没有发生任何变化，但其产品的实测插入损耗（IL）和回波损耗（RL）值却不如以前。测量设备有问题吗？好吧，这是可能的，但可能性很小。
显然情况已经改变。如果不是测量设备，则必须是产品或测量设置。随着时间的流逝，生产过程可能会变成熟悉的，可能很无聊的例行程序。操作员在清洁上可能会变得一丝不苟，使用抛光膜的时间可能超过适当的时间，甚至采取捷径。最终，这会造成巨大的损失，并使产量下降。
假设您已经通过彻底清理程序并将其重置为严格的生产准则来消除了这种可能性。但是问题仍然存在。在这一阶段，“黄金标准”产品是有用的–仔细保存您以前生产的最佳产品的“已知”示例，并记录了非常好的IL和RL值。使用您当前的严格程序，重新测量此金标准产品。它仍然应该看起来不错。
我写过，不能单独对产品进行IL和RL测试。（请在此处阅读有关此主题的更多信息。）请记住，我们正在测量光纤连接器损耗，并且被测设备（DUT）需要连接到测试光缆（也称为跨接光缆，参考光缆或测试线）。重要的是要注意，测试光缆的质量和状况直接关系到被测产品的IL和RL测量值。
评估测试光缆的质量和状况
首先，确保测试光纤连接器清洁。接下来，仔细检查以确保它们处于良好状态。请记住，光纤连接器和连接套筒都不会永远持续下去。它们会随着使用而降解，而不仅仅是划痕和凹痕。滑动表面磨损。随着配合变得松散，对齐将受到影响。
在更换测试连接器之前，可以进行几次配合？有一个确切的数字可以使用。但是，由于连接器的类型和质量以及操作员的技能，很难给出确切的答案。
假设更换所有测试光缆和耦合器，将使您的金标准产品恢复到以前的良好测量值。这是有用的信息。花一分钟时间确定这些特定的测试光缆大约进行了多少次配合。你是几号到达的？现在您知道多少联轴器太多了！
确定使用限制并确定更换时间表
我建议您将使用限制设置为上述数字的一半。权衡持续的更换成本和更换测试光缆所需的时间。如果让产品进入故障阶段，这与成本相比如何？
经常监视金标准设备的机制可能有助于确定测试光缆的使用限制。（不要过于频繁地进行此操作，否则您的金标准光缆会退化。）这种监视方式将帮助您制定合理的更换时间表。
这是一个有用的提示：如果您使用Viavi MAP / PCT系统，它可以跟踪测量跳线的使用情况，并在光缆超过用户定义的限制时发出警告。如果您使用其他测试仪器，建议您检查一下它是否可以跟踪使用情况，并提供此类警告。
实施强大的过程控制
测试光缆的使用寿命确实有限。而且寿命会有所不同。例如，不正确的配合或清洁会潜在地损坏测试光缆的端面，从而使其无法使用。
实施强大的过程控制将大大延长测试光缆的寿命，并确定何时需要更换测试光缆。如上所述，我建议：
（1）经常检查配合之间的测试光缆端面
（2）遵守良好的清洁习惯
（3）使用“知名”光缆进行故障排除
如果您发现光缆组件的IL / RL结果降低，建议您首先建立严格的生产控制。接下来，请按照本文中的指南实施步骤，以评估测试光缆的状况，跟踪使用情况并制定合理的更换时间表。
