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测试跳线时显示出增益_解决办法
日期:2021-02-04 02:03:08
跳线

在经过正确校准的IL / RL仪表上进行测量时,我的某些跳线显示出增益。这怎么可能?由于跳线无法获得增益,是仪器有问题吗?
如果您的IL / RL测量仪已正确校准,则仪器可能没有任何问题。要了解这个令人费解的问题,我们必须查看测量方法。
 
请记住,不可能单独测量跳线。它需要连接到某物–需要测试跳线
一种测试方法使用一对测试跳线:启动和接收。将它们连接在一起以进行参考,然后将被测设备(DUT)插入它们之间。这样就得出了跳线的总插入损耗,包括两端的连接。IL仪表仅报告基准和测量连接之间的功率差异。
 
如果测试光纤连接器是完美的,则它们在参考阶段不会造成任何损失。测量的任何损失都可能是由于DUT的连接器或光纤中的缺陷。如果测试光纤存在几何误差,则参考时偏离适当居中状态可能会产生损耗。
 
在最坏的情况下,偏移量将为180度。如果DUT恰好在每个端都有偏移量以匹配测试光纤,则在某种程度上它将抵消偏移量的影响。因此,测量损失(由于这种影响)将小于参考损失,并且光纤的插入损耗将为负,这似乎具有增益!
 
通常,测试跳线偏移将相对于被测设备处于随机方向,其他损耗影响可能更大。效果是从DUT的真实IL中随机增加或减去少量。但是有时会出现实际的增益。
 
作为附带说明,我建议使用高质量的测试跳线,以帮助确保准确的插入损耗测量。显然,要确定跳线的性能,必须使用其他光纤,这些光纤的质量会影响被测设备的测量结果。您可以使用高质量的跳线,但是对于您的生产设施而言,它们可能会非常昂贵。另一方面,使用来源不明的廉价跳线不是一个好主意。我建议您购买由成熟的一流制造商生产的高质量跳线,嘉富在此提供。
 
如果您对测试跳线有疑问,请随时与我们的技术专家联系,我们将尽快答复。我们的目标是提供信息和教程,以便您可以不断改善测试过程。
 
如何准确测量IL / RL –本文讨论了为什么测量插入损耗和回波损耗很重要,以及如何精确测量IL / RL。另外,我提供有关在测量RL时是否使用心轴套,折射率匹配凝胶或光学时域反射仪(OTDR)的具体建议。
 
IL / RL差的原因是什么?–在这次详尽的讨论中,我处理了多个生产问题,这些问题可能会导致不良的插入损耗和回波损耗,并提出了解决这些问题的具体建议。
 
插入损耗测量,而不是一项琐碎的任务–如果您的生产设备是新的,是否应该制造自己的发射跳线?至少在最初,这可能不是一个好主意。另外,您知道发射跳线应该使用相同的光纤类型,而不仅仅是相同的大小吗?
 
环通量–相对非技术性的概述– IEC 61280-4-1标准规定了在发射到被测设备中时光(通量)的分布。“环绕光通量”是一种相当宏伟的方式,可以说出磁芯内给定尺寸的每个圆圈内的光量。
 
双向测试是将所有光学测试时间缩短一半的灵丹妙药吗?许多光纤装配厂都希望进行双向测试以节省时间。但是,有些不能正确使用此测试方法。