测试技巧：增强光纤连接器/适配器效率

您每天都可以与我们联系，以获取有关光纤组件测试和检查支持的资源。IL / RL结果下降是我们提供的技术专长，用于建立严格的生产控制。随着我们制定定制的程序准则来评估测试光纤的状况，轨道使用情况以及合理的更换时间表，许多有用的提示变得突出。

为了快速参考，我们整理了一些技巧，可以帮助您改善连接过程。

提示1：参考后检查测试设置的稳定性

执行IL参考后，将测试导线直接连接到功率计，并在工作台上稍微移动参考光纤时观察IL值。功率电平变化应该很小（最多0.00 +/- 0.02左右）。如果在移动参考光纤时功率水平发生变化，则测试布局中可能存在问题（弯曲/挤压光纤或光纤适配器连接不良等）。

提示2：确定高损耗原因

较高的波长对光纤过度弯曲造成的损耗更敏感。较低的波长对适配器中光纤未对准造成的损耗更敏感。如果您正在测试SM光纤并且无法达到IL规格，请查看1310nm和1550nm处的IL结果。在理想环境中，两个结果都应该“相等”（大约在0.02 dB之内）。如果1550的结果远高于1310，则造成损耗的主要原因可能是组件中某处的纤维过度弯曲。如果1310结果远高于1550，则造成损耗的主要原因可能是光纤连接器配合处光纤与光纤之间的对准不良。

提示3：在连接之前，确保密封垫圈干燥

酒精通常在配对之前用于清洁端面。如果端面上残留任何液体，则在与另一个连接器配合使用时，它可以充当“折射率匹配”的液体，从而导致RL值异常高。为了确保获得准确的RL结果，请确保端面清洁并在配对前干燥（注意：这是始终建议使用99％+的纯酒精进行清洁的另一个原因，因为较低的纯度包含较高百分比的水，并且不会很快蒸发）。

提示4：不可能出现IL负值

当您将光插入光纤组件的一端时，另一侧总会有更少的光出射-总是有一定量的光损失-无源光纤组件不可能发光。如果您在光纤组件上测试IL，结果为负值（意味着，您得到的组件OUT的光比测试导线所输入的更多），则您的设置参考无效，需要归零再次。

提示5：保护探测器

为了获得准确的IL结果，至关重要的是，测试系统的光电探测器必须干净且无刮擦或其他此类缺陷。应当定期检查检测器的表面，并根据需要进行清洁（用5倍放大倍数的放大镜检查就足够了）。但是在清洁时要非常小心，请参阅测试系统用户手册以了解正确的检测器清洁方法-一些检测器表面具有抗反射涂层膜，如果用酒精清洁，则该膜会降解。

损坏的光电探测器可能会导致主要的测试问题，并且维修起来非常昂贵且耗时。请务必与设备制造商联系，以进行推荐的光电探测器保养。

提示6：测试线质量

正如他们所说，“一条链是最强的环节，却是最薄弱的环节”。对于IL和RL测试系统，最薄弱的环节通常是测试线。即使使用最好的信号源和功率计，如果您的测试线质量较差，则IL结果的准确性和可重复性也很差。测试线的芯对套圈外径同心度对于获得准确且可重复的IL结果至关重要-尤其是在测试单模时，因为芯体很小（〜8um），即使很小的离心率也会导致明显的芯体偏移与DUT配合使用时，会给出错误的IL测量值。

测试导线套圈应具有最高质量和最严格的尺寸公差，并且应抛光以达到或超过几何和外观的典型行业标准，并且芯对套圈的外径偏心值为0.5um或更少。（同样，对于较小的纤芯尺寸，这比较大的纤芯尺寸更为重要，因为对于较小的纤芯纤维，任何偏心效果都会更加明显）。当其他一切看起来不错，但结果似乎仍然不正确时，请考虑存储并使用主光纤测试测试线。

提示7：测试前设备连接器的检查和清洁

测试之前，在仪器的动态范围内，设备接口连接器的“空中参考”回波损耗读数至少应为65 dB，这一点很重要。MAPS通常为-75及以下。检查过程取决于设备制造。致电我们了解详情。

此外，必须遵守使用前的“检查和清洁”旧规定。设备连接器上的灰尘和光纤端面损坏会影响读数，并可能损坏DUT。合适的探头范围和尖端是绝对的，因为大多数连接器接口都不容易接近。您不能仅依靠棉签清洁。

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