将日历追溯到1981年-光纤的早期。我曾在一家光纤连接器制造商工作，我的一位客户问：“连接器的回波损耗是多少？” 我不知道答案！我很沮丧，坦率地说，我很尴尬。从那天起，我就已经成为了终生的职业目标，以彻底了解影响回波损耗和插入损耗的所有几何参数。影响光纤连接器光学性能的关键几何参数包括半径，角度/顶点，键差和光纤高度。
35年后的今天，我向世界各地的光缆组装设施提供产品和测试设备。如今，我的许多客户都为一个不同的问题所困扰：光纤连接器的理想光纤高度是多少？为什么这是一个常见（且令人困惑）的问题？在某种程度上，这是由我们行业对光纤高度的各种规格所驱动的。
IEC国际标准规定的规范是开放的，而且松懈。该规格要求-125 / + 100纳米–延伸225纳米！这样想：就像开车沿着10车道宽的州际公路行驶一样。这比您需要的空间要大得多。大多数接受测试的光纤组装设备都可以轻松通过此开放规范。
您的光纤组装工厂是否遵循+/- 50纳米的通用行业规范？考虑到总公差为100纳米，我认为该规格也太宽泛。按照我们的隐喻，此规范将10车道的高速公路减少到大约4车道宽，这仍然超出了需要。在测试中，大多数连接器应通过此规范。
另外，还有一个复杂之处–一些制造商的规格甚至比“通用”行业标准更为严格，例如0 / + 20纳米。按照我们的隐喻，这就像在缩小我们的行人路。在质量方面，我认为这些严格的规范比必要的更为严格。在生产方面，我认为这些严格的限制因素会给生产合格的产品带来不适当的压力。记住，我在生产工厂工作。我了解制造符合规格的高质量跳线和光纤的现实，同时又能获得所需的良率。
鉴于我在该行业的多年经验，我可以提供有关光纤高度的历史观点。我们有这么多不同的规格，以及松懈的规格，这一事实说明了我们行业的进步。几十年前，我们对光纤高度的控制绝对为零。即使在几年前，我们控制光纤高度的能力也中等。利用当今的技术，尤其是最新的最终胶片技术，我们可以对光纤高度进行非凡的控制。
实际上，没有理想的光纤高度。我建议瞄准+/- 20纳米的目标光纤高度。
我个人曾追问过一个问题-理想的光纤高度是多少？–通过进行一系列测试。我创建了具有不同光纤高度的连接器，并对其进行了环境测试，以分析连接器的性能。这包括在80摄氏度（176华氏度）和-40摄氏度（-38华氏度）之间的温度测试。
根据我在压力和温度下对陶瓷磁偏角的第一手环境测试，我建议将光纤高度定为+/- 20纳米。这意味着您可以降低到-20，悬停为零或高达+20纳米。此目标规格的公差为40纳米。这使您的光纤组装设备能够生产高质量的设备，而不受极严格的公差限制，从而导致良率降低。
如今，光纤高度是最容易控制的几何参数。您如何实现+/- 20纳米的目标光纤高度？
使用现在可用的高级最终抛光研磨膜，可以轻松实现+/- 20的紧公差。实际上，有两种新的薄膜使您可以控制生成的光纤高度-以及为工厂的生产环境确定的特定压力，速度和垫层硬度。
Wendy
Sophie
Jeanne
