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光纤制造公司如何构建模块透明多模测试线
日期:2021-02-07 10:47:14
光纤制造公司

我相信每个光纤制造公司都应该建立自己的测试线。当然,这些测试线必须提供准确,可重复的插入损耗(IL)测试结果。

 
本文提供了指导,以自信地构建和使用符合EF标准的“模态透明”测试线(也称为参考线和发射线)。
 
如何建立自己的模态透明多模测试引线简而言之,为什么“ EF遵从性”很重要?如今,大多数多模测试系统的设计和制造都是为了确保符合EF标准的光输出。IEC发起了EF-Compliance标准,以促进标准的多模测试启动条件,从而获得一致的,可重复的插入损耗测试结果。
 
符合EF的发射条件减少了“过满”和“未满”发射条件的发生,这两种情况都会导致IL测试结果不准确:

发射过量的条件–在发射过量的条件下,离开测试导线的光功率会以较大的“斑点尺寸”散布-可能大于光纤纤芯的尺寸。当连接到被测设备(DUT)时,即使接收连接的质量很好,该点外径上的大量光功率也不会耦合到接收光纤的纤芯中。结果增加了(错误地很差)插入损耗测试结果。

欠填充的发射条件–相反,在欠填充的发射条件下,光功率以集中在磁芯中心的小的“斑点大小”从测试导线中退出。连接到DUT时,即使两个纤芯严重错位,大多数光也很容易耦合到接收光纤的纤芯中。结果是错误的良好插入损耗测试结果。

请记住,客户的传输设备的发射条件未知,并且会有所不同,具体取决于光源(激光或LED)的类型和光源制造商。符合EF标准的目的不是要标准化最终用户传输设备的启动条件,而是要标准化光缆组件制造商的测试设备,以便可以将所有光纤制造公司的测试结果“一分为二”。
 
很有可能,您不会在整个测试设置中都保持EF-Compliance。原因如下:
 
许多光纤制造公司因不了解仅使用符合EF的光源而不足以确保从测试导线发出的光仍然符合EF的规定而出错。的EF兼容光源确保光离开所述源具有受控的和特定的模式条件。制造商有责任确保您的测试线由高质量的连接器和光纤构成,以保持符合要求的模态条件。
 
将劣质的测试导线(或测试系统中的开关或任何其他组件)连接到光源,可能会极大地改变光源的模态条件,即使光源本身确实符合EF。现在,从测试线发出的光不再受到控制,可能不符合EF标准。
 
您如何维持EF-Compliance?
 
确保在整个测试过程中保持EF-Compliance的最佳方法是确保测试系统光路内的所有光纤(开关,测试导线等)尽可能“模态透明”。也就是说,应将整个光路中的光纤和连接设计为对改变光输入的模态条件影响最小。
 
通常,光缆组装生产商会使用低成本/低质量的光纤和连接器来构建自己的多模测试线,而无需考虑这些因素如何影响输出模态条件。理想情况下,您可以使用市售的EF表直接测量测试导线输出的EF-Compliance。但是,实际情况是,很少有光纤制造公司在此设备上进行投资。这是相对昂贵的,制造商倾向于将多模组件视为光缆组件的“低级”,而不应关注“高级”单模组件所需的测试细节。但是,即使没有专用的EF测量仪,也不难构建能够高度自信地维护EF-Compliance的测试导线。
 
要构建“模态透明”多模测试线以帮助维持符合EF标准的测试光源的模态条件,您应该:
 
使用可用的最高质量的光纤,并按照行业标准进行抛光–大多数主要的光纤制造公司都提供高质量的计量级多模光纤。询问您的光纤供应商;他们应该熟悉这种纤维。

用高质量的连接器端接这些光纤–我建议在所有多模测试导线上使用优质的单模光纤连接器。这些将具有足够的套圈孔同心度和孔内径公差。使用具有高同心度/低直径套圈孔的连接器。这一点很重要,不仅在用于测试的测试导线的末端,而且对于将要连接到光源的测试导线的末端,也很重要。如果那两个光纤芯未正确对准,则模态条件将发生改变。
抛光密封垫圈,使其符合标准的单模端面几何形状和外观检查标准–这有助于确保所有连接器配合中的最佳芯对芯接触。
 
底线
您可以建立并放心使用自己的“模态透明”多模测试线,以充分维持来自EF兼容光源的输入光的模态条件。这将为您提供更准确,可重复的IL测试结果!